The Development of binocular Disparity Technique for Printed Circuit Board Defect Inspection 李文宗 分類: 期刊 / 國外期刊(其他) / 年2014作者建檔日期2019-02-19作者順序第一作者通訊作者是發表年份2014發表月份10期刊名稱International Journal of Computer Science Engineering and Information Technology Research出版單位TJPRC 出版地國別／地區中華民國發表卷數4發表期數5起始頁57結束頁64審稿制度否出版語言外文所屬計畫案無
