The Development of Binocular Disparity Technique for Printed Circuit Board Defect Inspection
李文宗
李文宗
分類: 期刊  /   國內期刊(其他)  /  
2004
作者
建檔日期2019-03-26
作者順序第一作者
通訊作者
發表年份2004
發表月份10
期刊名稱International Journal of Computer Science Engineering and Information Technology Research
出版單位Transstellar Journal Publications and Research Consultancy Pvt. Ltd.
出版地國別/地區美國
發表卷數4
發表期數5
起始頁57
結束頁64
審稿制度
出版語言外文
所屬計畫案