Microstructure and electrical property of tantalum oxynitride thin films preparedusing high-power impulse reactive magnetron sputtering

Microstructure and electrical property of tantalum oxynitride thin films preparedusing high-power impulse reactive magnetron sputtering

教授    7556    YCLee@mail.npust.edu.tw
年份2020
作者李英杰*
Author count1
Created date2021-03-24
作者順序第三作者
通訊作者
發表年份2020
發表月份10
期刊名稱Japanese Journal of Applied Physics,
出版地國別/地區日本
發表卷數59
發表期數11
起始頁11650
結束頁11650
發表型式
審稿制度
出版語言中文