Investigation of Ce:YAG Doping Effect on Thermal Aging for High-Power Phosphor-Converted White-Light-Emitting Diodes
許益誠
許益誠
分類: 期刊  /   SCI(Sciences Citation Index)  /  
2009
作者
建檔日期2019-02-19
作者順序第一作者
通訊作者
發表年份2009
發表月份9
期刊名稱IEEE Trans. On Device and Materials Reliability
出版地國別/地區中華民國
發表卷數9
發表期數3
起始頁367
結束頁371
審稿制度
出版語言外文
所屬計畫案