Failure Mechanisms Associated with Lens Shape of High-Power LED Modules in Aging Test
許益誠
許益誠
分類: 期刊  /   SCI(Sciences Citation Index)  /  
2008
作者
建檔日期2019-02-19
作者順序第一作者
通訊作者
發表年份2008
發表月份2
期刊名稱IEEE Transaction on Electronic Device
出版地國別/地區中華民國
發表卷數Vol. 55,
發表期數No. 2,
起始頁689
結束頁694
審稿制度
出版語言外文
所屬計畫案