Effect of AlN Film Thickness Effects on Photo / Dark Current of MSM UV Photodetector
Effect of AlN Film Thickness Effects on Photo / Dark Current of MSM UV Photodetector
教授
7555
ryyang@mail.npust.edu.tw
年份 | 2008 |
作者 | 楊茹媛*, Chin-Min Hsiung, Hsuan-Hsu Chen, Hung-Wei Wu, Ming-Chang Shih |
Author count | 5 |
Created date | 2019-02-19 |
作者順序 | 第一作者 |
通訊作者 | 是 |
發表年份 | 2008 |
發表月份 | 11 |
期刊名稱 | Microwave & Optical Technology Letters |
出版地國別/地區 | 中華民國 |
發表卷數 | 50 |
起始頁 | 2863 |
結束頁 | 2866 |
發表型式 | |
審稿制度 | 否 |
出版語言 | 外文 |
所屬計畫案 | 無 |