Effect of AlN Film Thickness Effects on Photo / Dark Current of MSM UV Photodetector
Effect of AlN Film Thickness Effects on Photo / Dark Current of MSM UV Photodetector
教授
7555
ryyang@mail.npust.edu.tw
| 年份 | 2008 |
| 作者 | 楊茹媛*, Chin-Min Hsiung, Hsuan-Hsu Chen, Hung-Wei Wu, Ming-Chang Shih |
| Author count | 5 |
| Created date | 2019-02-19 |
| 作者順序 | 第一作者 |
| 通訊作者 | 是 |
| 發表年份 | 2008 |
| 發表月份 | 11 |
| 期刊名稱 | Microwave & Optical Technology Letters |
| 出版地國別/地區 | 中華民國 |
| 發表卷數 | 50 |
| 起始頁 | 2863 |
| 結束頁 | 2866 |
| 發表型式 | |
| 審稿制度 | 否 |
| 出版語言 | 外文 |
| 所屬計畫案 | 無 |