Deep-Learning-Based Defective Bean Inspection with GAN-Structured Automated Labeled Data Augmentation in Coffee Industry
| 年份 | 2019 |
| 作者 | 周咏蒨, 郭承儒, 陳姿婷, 洪國鈞, 白貿元*, 吳牧恩, 林祐全, 洪敏雄, 蘇維宗, 陳奕中, 王鼎超, 陳朝鈞 |
| Author count | 12 |
| Created date | 2019-12-09 |
| 作者順序 | 第四(以上)作者 |
| 通訊作者 | 是 |
| 發表年份 | 2019 |
| 發表月份 | 10 |
| 期刊名稱 | Applied Sciences |
| 出版單位 | MDPI |
| 出版地國別／地區 | 瑞士聯邦 |
| 發表卷數 | 9 |
| 發表期數 | 19 |
| 起始頁 | 1 |
| 結束頁 | 26 |
| 發表型式 | |
| 審稿制度 | 是 |
| 出版語言 | 外文 |
| 所屬計畫案 | (MOST108-2218-E-020-003-) |