Investigation of Ce:YAG Doping Effect on Thermal Aging for High-Power Phosphor-Converted White-Light-Emitting Diodes
| 年份 | 2009 |
| 作者 | 許益誠* |
| Author count | 1 |
| Created date | 2019-02-19 |
| 作者順序 | 第一作者 |
| 通訊作者 | 是 |
| 發表年份 | 2009 |
| 發表月份 | 9 |
| 期刊名稱 | IEEE Trans. On Device and Materials Reliability |
| 出版地國別／地區 | 中華民國 |
| 發表卷數 | 9 |
| 發表期數 | 3 |
| 起始頁 | 367 |
| 結束頁 | 371 |
| 發表型式 | |
| 審稿制度 | 否 |
| 出版語言 | 外文 |
| 所屬計畫案 | 無 |