Nanoscale Deformation Measurement using the Gray-level Method by Holographic Interferometry

副教授 08-7703202#7454、(L)7480 c123@mail.npust.edu.tw

年份	2006
作者
Created date	2019-02-19
作者順序	第四(以上)作者
通訊作者	是
發表年份	2006
發表月份	1
期刊名稱	Optics and Lasers in Engineering
出版地國別／地區	中華民國
起始頁	80
結束頁	91
發表型式
審稿制度	否
出版語言	外文
所屬計畫案	無