Improving Defect Inspection Quality of Deep-Learning Network in Dense Beans by Using Hough Circle Transform for Coffee Industry
白貿元
白貿元
分類: 研討會  /  
2019
作者郭承儒, 王鼎超, 陳姿婷, 周咏蒨, 白貿元*, 洪國鈞, 洪敏雄, 林祐全, 許子衡, 陳朝鈞
作者人數10
建檔日期2020-03-23
作者順序1
通訊作者false
發表年份2019
會議名稱IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics (SMC)
會議起始頁碼1
會議結束頁碼8
舉行之城市Bari
舉行之國家義大利共和國
開始日期2019-10-06
結束日期2019-10-09
審稿制度
發表語言外文