IC腳位與印碼瑕疵視覺檢測之自動分類系統 林宜弘 分類: 研討會 / 年2008作者林宜弘作者人數1建檔日期2019-02-19作者順序1通訊作者false發表年份2008會議名稱第十一屆全國機構與機器設計學術研討會會議起始頁碼50舉行之城市新竹舉行之國家中華民國開始日期2008-11-04結束日期2008-11-04審稿制度否發表語言中文
