BGA IC外觀檢測系統之開發 林宜弘 分類: 研討會 / 年2005作者林宜弘作者人數1建檔日期2019-02-19作者順序1通訊作者false發表年份2005會議名稱第五屆全國AOI論壇與展覽舉行之國家中華民國開始日期2005-10-01結束日期2005-10-01審稿制度否發表語言中文