陰影疊紋法應用在IC封裝翹曲檢測系統之開發 林宜弘 分類: 研討會 / 年2006作者林宜弘作者人數1建檔日期2019-02-19作者順序1通訊作者false發表年份2006會議名稱AOI Forum & Show 2006第六屆全國AOI論壇與展覽舉行之國家中華民國開始日期2006-07-01結束日期2006-07-01審稿制度否發表語言中文
