陰影疊紋法應用在IC封裝翹曲檢測系統之開發

陰影疊紋法應用在IC封裝翹曲檢測系統之開發

副教授    7015    linyh@mail.npust.edu.tw
年份2006
作者林宜弘*
Author count1
Created date2019-02-19
作者順序1
通訊作者false
發表年份2006
會議名稱AOI Forum & Show 2006第六屆全國AOI論壇與展覽
舉行之國家中華民國
開始日期2006-07-01
結束日期2006-07-01
審稿制度
發表語言中文