應用機器視覺於LCM亮/ 暗點/ mura瑕疵撿測與分類 陳念慈 分類: 研討會 / 年2005作者陳念慈作者人數1建檔日期2019-02-19作者順序1通訊作者false發表年份2005會議名稱2005年兩岸機電暨產學合作學術研討會舉行之城市大華技術學院舉行之國家中華民國開始日期2005-11-01結束日期2005-11-01審稿制度否發表語言中文