Nano-scale Measurement using the Direct Gray-level Method by Holographic Interferometry
| 年份 | 2003 |
| 作者 | |
| Created date | 2019-02-19 |
| 作者順序 | 1 |
| 通訊作者 | false |
| 發表年份 | 2003 |
| 會議名稱 | SEM Annual Conference & Exposition on Experimental and Applied Mechanics |
| 會議起始頁碼 | 1 |
| 會議結束頁碼 | 8 |
| 舉行之城市 | Charlotte, North Carolina |
| 舉行之國家 | 中華民國 |
| 開始日期 | 2003-06-02 |
| 結束日期 | 2003-06-02 |
| 審稿制度 | 否 |
| 發表語言 | 外文 |